欢迎光临亿博检测机构(EBOTEST)
欢迎拨打检测热线 135-7084-7473

深圳亿博检测机构(EBOTEST)

135-7084-7473

电子产品为什么要做低温冲击测试

浏览次数: | 2018-11-08 20:42

电子产品为什么要做低温冲击测试

  电子产品在低温冲击测试中,试验样品应在规定温度下保持足够时间,以使试样整体达到规定的均匀温度。如果使用液体介质时,保温时间应不少于5min;使用气体介质时,保温时间不少于20min。同时,用于移取试样所用的夹具也应放于相同温度的冷却介质中,确保与介质温度基本相同。

低温冲击测试

  低温冲击测试就是考核电子产品对周围环境温度急剧变化的适应性,低温自动冲击试验机用于测定金属材料在动负荷下抵抗冲击的性能,以便判断材料在动负荷下的性质。利用摆锤冲击前位能与冲击后所剩余位能之差在度盘上显示出来的方式,得到试样的吸收功。最大冲击能量为300J,并附带150J摆锤一个,所用试样断面为(10×10)mm。本机具有较大的冲击能量,适用于冲击韧性较大的黑色金属,如钢铁及其合金。

  对于低温冲击试验,从冷却装置中移出的试样温度会回升,从而偏离实际规定的低温温度。如果试样从液体介质中移出至打击的时间在2s之内,从气体介质装置移出至打击的时间应在1s之内,试样温度的回升可以忽略。这种操作方法称为"直冲法",一般带有自动送样装置的冲击试验机可以满足上述要求,它的试样从冷却装置中提前移动,以保证与摆锤下落打击时间同步。

  如果没有条件满足上述时间要求,为了尽量减少偏离的温度,可将试样冷却至低于规定的温度以补偿打断瞬间的温度损失,这种操作方法称为“过冷法” 。采用“过冷法”,也必须在3~5s内打断试样,如果试样从冷却介质中取出后5s内摆锤末放下,则停止试验,将试样重新放回到冷却介质中保温。


本文连接:http://www.diwenceshi.com/dwcszx//296.html



相关文章



此文关键词:低温冲击测试

粤公网安备 44030602001710号